本系列可程式高低温冷热冲击试验箱主要用於測試材料對極高溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似於不連續地處於高溫或低溫中的情形，冷熱衝擊試驗能使各種物品在最短的時間內完成測試。熱震中產生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，採用PID系統，各類產品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化，PID系統的全數位元自動控制，將使您操作簡易。
高低温冷热冲击试验箱廣泛用於電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件
汽車 配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航太、兵工業、BGA、PCB基扳
電子晶片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉
力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械
的元件，可作為其產品改進的依據或參考。
符合标准
GJB360.7-87温度冲击试验;
GJB367.2-87 405温度冲击试验;
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;
满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
GB/T 2423.22-2002温度变化;
